Achiziție - Difractometrul de raze X pentru laborator(de tip bench-top)

Ati indicat parametrul - fabricat nu mai devreme de 2022. Data limită de depunere a a ofertelor este 4 aprilie 2022. Acest lucru înseamnă ca dispozitivul trebuia sa fie produs maxim în 3 luni ai anului 2022. La momentul actual, mulți producători au probleme cu piesele de bază din cauza pandemiei și a deficitului de piese din cauza crizei mondiale de semiconductoare, ceea ce este un impediment mare de livrare acestor dispozitive cu anul de producere 2022, dat fiind faptul că producerea lor în aceasta fereastră de 3 luni foarte complicată, deoarece procesul tehnologic este îndelungat și complex. Luînd în considerație cele spuse mai sus, poate fi livrat un difractometru cu anul de producere 2021-2022?

... afișează tot conținutul

Bună ziua,
La achiziționarea acestei instalații științifice prevede de obicei fabricarea și asamblarea dispozitivului la comandă, adică dispozitivul nu este la depozit, dar se asamblează la cerințele clientului. Astfel, anul de producere a instalației poate fi și 2021-2022, însă tubul de raze X (având durata de viață mai redusă (chiar și neconectat sau neutilizat) trebuie să fie cu anul de fabricare nu mai devreme de 2022.
Mulțumim mult pentru întrebare.

... afișează tot conținutul

CLARIFICARE

In cadrul caietului de sarcini pentru specificatiile tehnice de la sectiunea “goniometru” s-a solicitat:
Calibrarea goniometrului trebuie să fie efectuată folosind proba de referință furnizată cu difractometru, abaterea pozițiilor măsurate ale maximelor de difracție ale acestei probe de la valorile de referință nu trebuie să depășească ± 0,01 grade.
Difractometrul nostru ofera si garanteaza pentru abaterea pozițiilor măsurate ale maximelor de difracție ale acestei probe de la valorile de referință o acuratete de ± 0,02 grade.
Aceasta accuratete este in deplin acord cu cerintele Standardului European EN 13925-3 Non destructive testing - X ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials - Part 3: Instruments –
This document sets out the characteristics of instruments used for X-ray powder diffraction ("powder" as defined in EN 13925-1:2003, Clause 5) as a basis for their control and hence quality assurance of the measurements made by this technique. Performance testing indicators are given for diffractometer performance testing. Different types and makes of X-ray powder diffractometer vary considerably in their design and intended fields of application. This document attempts to cover as much of this range as possible by keeping to common principles. To make the standard more readily applicable, the Bragg-Brentano configuration is addressed in most detail because of its wide use. Additional considerations and adaptations may be necessary to cover some types of instruments or configuration and some fields of application.
A se vedea valoarea abaterii de ± 0,02 grade impusa de standardul de lucru in documentul atasat.

Intrebare 1:

In contextul argumentelor de mai sus vă rugăm să acceptati un difractometru la care abaterea pozițiilor măsurate ale maximelor de difracție ale acestei probe de la valorile de referință nu depaseste ± 0,02 grade.

... afișează tot conținutul

Difractometrul este conceput în primul rând pentru a efectua cercetări științifice asupra materialelor diverse noi în fază cristalină și amorfe și nu pentru a efectua controlul materialelor deja cunoscute. Printre materialele propuse pentru cercetare se enumără: 1. cristale semiconductoare multicomponente cu o compoziție de fază variabilă, care diferă nesemnificativ în parametrii celulei elementare, iar această diferență trebuie fixată în mod fiabil. 2. compuși organometalici și compuși organici ale căror cristale pot avea parametri celulei elementare care depășesc 40 angstromi, iar volumul lor pot depăși 25 000 angstromi cubi. Densitatea maximelor de difracție în asa cazuri este foarte mare, iar acestea ar trebui să fie bine evidențiate pentru soluționare. Având o precizie de ±0,02 grade, diferența dintre parametrii măsurați la un unghi de difracție de 10 grade pentru o lungime de undă de 1,5418 (radiație Cu) va depăși 0,02 angstromi, ceea ce este inacceptabil pentru cercetările noastre. Noi, de exemplu, nu vom putea compara desenele de difracție ale cristalelor compușilor izomorfi. Viteza măsurătorilor nu este critică în cazul nostru, acestea nu sunt măsurători în serie, ci măsurători pentru mostre unice cu un volum mic (1-2 miligrame, volumul nu este mai mult decât un „cap de chibrit”). Precizia determinării poziției maximelor de difracție anume este un factor critic, la fel ca și capacitatea de a măsura cantități mici de substanță. Astfel, propunerea difractometrului care conține abaterea pozițiilor măsurate ale maximelor de difracție de la valorile de referință ce depaseste ± 0,01 grade, nu vor fi acceptate.

... afișează tot conținutul

In specificatiile tehnice prezente in caietul de sarcini la sectiunea “Detectoare” s-a solicitat:
- Lățimea ferestrei pentru înregistrarea simultană a intervalului unghiular este de cel puțin 5° (2θ).

Producatorul nostru a echipat difractometrul benchtop cu detectorul ultrarapid D/teX, Direct-detection semiconductor strip type detector, avand lățimea ferestrei pentru înregistrarea simultană a intervalului unghiular cu o valoare de aproximativ 4.88° (2θ).
Producatorul nostru ofera un detector 1D intr-o varianta constructiva superioară celei solicitate in caietul de sarcini.
- Detectorul D/tex este un detector de inalta rezolutie, de tip strip semiconductor tip 1D cu arie activa de detectie mare de 13mm x 20mm = 260mm2 ce asigura performanta in inregistrare.
- Detectorul este cu detectie directa specific pentru masuratori ultrarapide.
- Benzile de detectie sunt toate active pentru performanta analitica optima.Producatorul ofera garantia acestor benzi de detectie active.
- Include beam stop (stopper de fascicul raze X)
- Este echipat cu modul variabil pentru suprimare dispersie aer
-D/teX nu necesită întreținere, fără răcire, fără gaz detector și fără înlocuitori de fire.
- Dimensiunea pixelilor: 100μm
- Setări de discriminare programabile pentru suprimarea fluorescenței
-Are viteza maxima de numarare: >1,000,000 cps
-Rata de numărare: 128.000.000 cps (1 x 106 cps / pixel)
Astfel s-au combinat avantajele numarului de benzi de siliciu cu lungimi mari cu o suprafață activă mare a detectiei, implicand astfel doua caracteristici esentiale pentru un detector (numarul/lungimea stripurilor si aria de detectie).

Aceasta diferenta extrem de mica pentru latimea ferestrei detectorului, nu influenteaza performantele mentionate mai sus care asigura analiza probelor cu rezultate excelente.

Intrebare 2:

In contextul explicatiilor de mai sus vă rugăm să acceptati varianta constructiva a modelului de detector D/tex avand lățimea ferestrei pentru înregistrarea simultană a intervalului unghiular cu o valoare de approximativ 4.88° (2θ).

... afișează tot conținutul

Fața de detectorul propus nu avem nimic impotriva, deoarece lățimea ferestrei de înregistrare simultană a intervalului unghiular de cel puțin 5°(2θ) sau 4,88°(2θ) este aproape aceieași. Astfel, detectorul propus va fi acceptat.

... afișează tot conținutul